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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱(chēng)：美國(guó)DESCO子品牌SCS EM EYE靜電事件探測(cè)儀

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-06-08

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國(guó)用戶(hù)提供美國(guó)DESCO子品牌SCS EM EYE靜電事件探測(cè)儀儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

產(chǎn)品特性Product characteristics

專(zhuān)業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦，專(zhuān)注工業(yè)測(cè)試領(lǐng)域十六年，志在破舊立新！*進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷(xiāo)售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒(méi)有，而代理經(jīng)銷(xiāo)商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷(xiāo)售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，以我們*進(jìn)*的經(jīng)營(yíng)理念，與客戶(hù)互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶(hù)采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作，提供較有競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國(guó)用戶(hù)提供美國(guó)DESCO子品牌SCS EM EYE靜電事件探測(cè)儀儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

美國(guó)DESCO子品牌SCS EM EYE靜電事件探測(cè)儀EM EYE METER 操作手冊(cè) Operation Manual

1. 產(chǎn)品描述

是一款靜電事件探測(cè)儀，可以測(cè)試靜電放電的次數(shù)和放電電壓。儀器具有分辨信號(hào)的能力，區(qū)分 EMI 和 ESD 信號(hào)，剔除非 ESD 相關(guān)事件。用戶(hù)可以選擇測(cè)試 CDM、HBM、MM 放電模型，儀器根據(jù)

放電模型、探測(cè)距離和信號(hào)強(qiáng)度計(jì)算出大致的放電電壓。

1 主機(jī)身

2 SD 內(nèi)存卡（已插入主機(jī)身）

3 CTC021 探測(cè)模塊（含 CTS001 天線）

4 CTC113-6FT 遠(yuǎn)端全向天線，1.8 米長(zhǎng)纜線

5 電源適配器

6 CTC115-6FT 遠(yuǎn)端全向天線，抗高溫，1.8 米長(zhǎng)纜線

標(biāo)配：1 +2 +3 +4 +5

選配：6

2. 部件功能及安裝

備注：

 CTS001 為定向天線，只可以探測(cè)到正前方的信號(hào)

 CTC113 為全向天線，可以探測(cè)到 360 度任何方向的信號(hào)

 如果需要探測(cè)高溫區(qū)域的靜電放電事件，選購(gòu) CTC115 高溫天線

 如果新機(jī)沖不了電，把電源適配器插上，然后頂 1 下重置鍵激活電池

CTC113 遠(yuǎn)端天線（全向天線），如果需要探測(cè)狹窄空間，可采用該天線

3. 觸控屏操作

 開(kāi)機(jī)：手指按住顯示屏任意位置 3 秒

 關(guān)機(jī)：手指按住 Power/C 鍵 4 秒

1 弧形圓點(diǎn)，示意 10 個(gè)級(jí)別的放電強(qiáng)度，點(diǎn)擊可設(shè)置報(bào)警閾值

2 閃電/三角符號(hào)：點(diǎn)擊可切換符號(hào)

閃電符號(hào)，只顯示靜電相關(guān)放電事件（ESD）

三角符號(hào)，顯示所有放電事件（包含 ESD 和 EMI）

3 探測(cè)距離：天線到被測(cè)試物/測(cè)試點(diǎn)的距離，點(diǎn)擊可設(shè)置距離

4 聲音符號(hào)：點(diǎn)擊該符號(hào)可選擇報(bào)警聲類(lèi)型及音量。鈴鐺符號(hào)為“叮鈴"聲，只有一個(gè)音量，不能調(diào)節(jié)。

點(diǎn)擊切換成喇叭符號(hào)，這時(shí)的儀器發(fā)出類(lèi)似收音機(jī)調(diào)頻聲，聲音根據(jù)信號(hào)強(qiáng)度的大小變化。繼續(xù)點(diǎn)擊可以調(diào)節(jié)音量大小，在喇叭上出現(xiàn)叉，表示靜音。

5 Power/C 按鍵：?jiǎn)螕粼撴I屏幕清零；按住該鍵 4 秒關(guān)機(jī)

6 Menu/F 按鍵：點(diǎn)擊進(jìn)入儀器基本設(shè)置界面

7 Hold 按鍵：點(diǎn)擊 1 次鎖定當(dāng)前值；再點(diǎn)擊 1 次標(biāo)識(shí)該值為最大值；再點(diǎn)擊 1 次取消鎖定

8 時(shí)間：顯示當(dāng)前時(shí)間

9 電量符號(hào)：示意剩余電量；點(diǎn)擊該符號(hào)設(shè)置日期和時(shí)間

10 內(nèi)存卡符號(hào)：點(diǎn)擊該符號(hào)，進(jìn)入查看界面，可以查看測(cè)試記錄

11 放電模型：點(diǎn)擊進(jìn)入設(shè)置界面，可以選擇 CDM、MM、HBM 放電模型或 Raw Input（信號(hào)電平）

12 靜電放電電壓值

3.1. 開(kāi)機(jī)界面

按住屏幕任意位置大概 3 秒后儀器開(kāi)機(jī)。開(kāi)機(jī)后先顯示儀器固件號(hào)，如下所示：

稍后，進(jìn)入待機(jī)界面。如果未插入 SD 卡或不能識(shí)別 SD 卡，出現(xiàn)以下提示：

無(wú) SD 卡也可以正常使用該儀器，但測(cè)試數(shù)據(jù)不會(huì)被保存。點(diǎn)擊黃色區(qū)域關(guān)閉提示窗口并進(jìn)入待機(jī)界面。

注意！拔插 SD 卡時(shí)，儀器處于關(guān)機(jī)狀態(tài)。

3.2. 儀器基本設(shè)置

點(diǎn)擊 Menu/F 鍵進(jìn)入基本設(shè)置界面，顯示如下：

 第一行顯示儀器主板編號(hào)

 第二行為屏幕亮度，點(diǎn)擊圓盤(pán)的?/?增加或降低亮度，默認(rèn) 50%

 點(diǎn)擊▲/▼滾動(dòng)到第三行“Off time"項(xiàng)，設(shè)置自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間（默認(rèn) 5 分鐘），點(diǎn)擊?/?改變時(shí)間，一直點(diǎn)擊?到 0，表示不啟用自動(dòng)關(guān)機(jī)功能

 點(diǎn)擊▲/▼滾動(dòng)到第四行“Local antenna"項(xiàng)，點(diǎn)擊?/?切換 Local antenna/Remote antenna

 Local antenna：采用 CTS001 定向天線時(shí)選擇該項(xiàng)

 Remote antenna：采用 CTC113 或 CTC115 遠(yuǎn)端全向天線時(shí)選擇該項(xiàng)設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤(pán)中間的8 返回待機(jī)界面

3.3. 設(shè)置日期和時(shí)間

點(diǎn)擊電池符號(hào)進(jìn)入日期和時(shí)間設(shè)置界面，顯示如下：

 第一行設(shè)置時(shí)間，點(diǎn)擊圓盤(pán)▲/▼改變數(shù)值，點(diǎn)擊?/?移動(dòng)光標(biāo)向前或向后

 第二行設(shè)置日期，格式為：月/日/年（08/15/16 表示 2016 年 8 月 15 日）

 第三行選擇 12/24 小時(shí)制，點(diǎn)擊▲/▼選擇 12H 或 24H

 設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤(pán)中間的8 返回待機(jī)界面

4. 測(cè)試靜電放電（ESD）事件

4.1. 設(shè)置探測(cè)距離和放電模型

儀器采用專(zhuān)li的算法，根據(jù)探測(cè)距離、獲得信號(hào)強(qiáng)度和放電模型計(jì)算出大致的放電電壓。用戶(hù)需要設(shè)置探測(cè)距離和放電模型。

探測(cè)距離：

天線距離被測(cè)試物/測(cè)試點(diǎn)的距離，設(shè)置范圍 0.5~15.0 英寸（1.3~38.1cm）

注意：實(shí)際測(cè)試時(shí)，天線距離被測(cè)試物/測(cè)試點(diǎn)應(yīng)該為所設(shè)置的距離。

放電模型：

CDM：器件本身帶有靜電，當(dāng)接觸到接地導(dǎo)體或其他電位導(dǎo)體時(shí)發(fā)生靜電放電

MM：帶靜電的設(shè)備或工具接觸到接地的器件，發(fā)生靜電放電

HBM：帶靜電的人體接觸到接地的器件，發(fā)生靜電放電

Raw Input：天線所獲得的實(shí)際信號(hào)強(qiáng)度（電平信號(hào)），該讀數(shù)用于儀器校準(zhǔn)

點(diǎn)擊屏幕的距離或放電模型方框，進(jìn)入設(shè)置界面，屏幕顯示如下：

 點(diǎn)擊圓盤(pán)▲/▼設(shè)置探測(cè)距離，選擇范圍 0.5~15.0 英寸（1.3cm~38.1cm），0.5 英寸以下，每點(diǎn)擊 1 次遞增 0.5 英寸；10 英寸以上，每點(diǎn)擊 1 次遞增 1 英寸。

 點(diǎn)擊圓盤(pán)?/?設(shè)置放電模型，可以選擇 CDM、MM、HBM、Raw Input

 設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤(pán)中間的8 返回待機(jī)界面

4.2. 報(bào)警閾值設(shè)置

點(diǎn)擊弧形圓點(diǎn)，進(jìn)入設(shè)置界面。（備注：儀器內(nèi)存只記錄超過(guò)閾值的靜電放電事件）

 點(diǎn)擊圓盤(pán)?/?設(shè)置報(bào)警閾值，范圍 000~990V：

 0~10V 按 1V 增幅設(shè)置

 10~990V 按 10V 增幅設(shè)置

 如果選擇了“Raw Input"測(cè)試模式，可以選擇 1~1500mV

 設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤(pán)中間的8 返回待機(jī)界面

按以上設(shè)置完成后，即可開(kāi)始測(cè)試。測(cè)試時(shí)屏幕出現(xiàn)閃電符號(hào)，表示開(kāi)啟了信號(hào)屏蔽功能，儀器剔除了非ESD 放電信號(hào)，只顯示靜電放電事件。點(diǎn)擊該符號(hào)切換到全信號(hào)模式，這時(shí)出現(xiàn)三角形符號(hào)，表示儀器顯

示所有探測(cè)到的信號(hào)，包括 EMI 背景噪音和 ESD 放電信號(hào)。

測(cè)試時(shí)，屏幕顯示的電壓值為估算的放電電壓，數(shù)字為超過(guò)閾值的放電次數(shù)。最高可以記錄 32767 次放電次數(shù)。點(diǎn)擊 Power/C 鍵可以清零放電次數(shù)，重新累計(jì)。

4.3. 按照 ANSI/ESD SP17.1 規(guī)范進(jìn)行靜電放電事件風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估流程

備注：

 首先確定靜電敏感器件是否有導(dǎo)體部位接觸或非常接近導(dǎo)電的物體，例如金屬-金屬接觸，如果沒(méi)有，通常不會(huì)有靜電放電風(fēng)險(xiǎn)，無(wú)需進(jìn)一步進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估。

 空載測(cè)試：在制程中不要放入靜電敏感器件，記錄下測(cè)到的靜電放電現(xiàn)象

 放入靜電敏感器件后，如果沒(méi)有探測(cè)到更多的放電現(xiàn)象，表示探測(cè)到的是干擾信號(hào)/背景噪音，而非放入靜電敏感器件后造成的靜電放電，評(píng)估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)

 如果探測(cè)到更多的放電現(xiàn)象，根據(jù)測(cè)到的放電電壓值和器件的靜電敏感閥值來(lái)評(píng)估風(fēng)險(xiǎn)，如果放電電壓值超過(guò)器件所列明的閥值，采取措施消除危險(xiǎn)，例如采取接地、離子中和等方式采取消除風(fēng)險(xiǎn)的措施后，再次進(jìn)行評(píng)估

1 是否和靜電敏感器件直接

接觸或距離非常近

評(píng)估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)

2 進(jìn)行空載測(cè)試

3 把靜電敏感器件放入后測(cè)試，對(duì)比測(cè)試結(jié)果

4 是否測(cè)到更多的靜電放電事件？

5 評(píng)估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)

否

否

6 評(píng)估風(fēng)險(xiǎn)程度

消除風(fēng)險(xiǎn)

按 2~5 步驟再次評(píng)估

5. 數(shù)據(jù)查看和處理

5.1. 安裝 SD 卡

1）把 SD 卡插入儀器，注意方向，有字的面朝上，有金屬觸腳的在里面。注意！一定要在儀器關(guān)機(jī)的情況下拔插 SD 卡。

2）插好卡后，儀器開(kāi)機(jī)，儀器會(huì)對(duì)新卡或空卡進(jìn)行初始化。然后進(jìn)入待機(jī)界面，在屏幕右中可以看見(jiàn) SD卡圖標(biāo)，表示成功。如果不顯示 SD 卡圖標(biāo)或有紅叉，表示該卡不兼容。

3）所有測(cè)試記錄會(huì)保存在 SD 卡上。注：只有超過(guò)報(bào)警閾值的值才會(huì)被記錄下來(lái)。

在待機(jī)界面，點(diǎn)擊 SD 卡符號(hào)，進(jìn)入查看界面。點(diǎn)擊圓盤(pán)的▲/▼和?/?可以上/下和左/右滾動(dòng)查看。

5.2. 數(shù)據(jù)處理

向供應(yīng)商獲取 EMEYE_Converter.zip 軟件，解壓后雙擊 setup.exe 安裝，按指示進(jìn)行安裝，最后點(diǎn)擊 Close完成。

把 SD 卡從儀器中取出，放入配套的卡托，插到電腦的卡槽上

1) 打開(kāi)安裝的 Em Eye File Converter Rev.5 軟件（在桌面有快捷圖標(biāo)）

2) 點(diǎn)擊 File > Open Ctrl+O，選擇 SD 卡上的 ESD3M0003.esd 文件

3) 打開(kāi)后可以看見(jiàn)所有的測(cè)試記錄，每條表示一個(gè)時(shí)間點(diǎn)的測(cè)試記錄。例如下圖第一行，表示 2016 年 8月 29 日 22 點(diǎn) 39 分 17 秒的測(cè)試記錄，共有 7 個(gè) ESD 事件發(fā)生（報(bào)警閾值為 370V）

4) 點(diǎn)擊任一條測(cè)試記錄，然后點(diǎn)擊 File > Save 保存。例如下圖，保存在 C 盤(pán)下的“ESD 測(cè)試"文件夾

5) 用 EXCEL 打開(kāi)該所保存的文件可以顯示詳細(xì)的測(cè)試數(shù)據(jù)

例如上圖，打開(kāi)所保存的 2016 年 8 月 29 日 22 點(diǎn) 39 分 17 秒的測(cè)試記錄，

可以看見(jiàn)詳細(xì)的 7 個(gè) ESD 事件。

備注：當(dāng) SD 卡滿(mǎn)后，把 SD 卡插入電腦，然后清空該卡即可。

重新把空卡插入儀器后，儀器會(huì)自動(dòng)初始化。

6. 故障信息

屏幕提示 解決方法

ERROR: Sensor is disconnected. Click here to turn device off.

未裝上探測(cè)模塊就開(kāi)機(jī)。先關(guān)機(jī)，裝上探測(cè)模塊后再開(kāi)機(jī)使用。

ERROR:Card was removed. Data may be lost and card could be damaged.

Click here to close the window.

在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下，拔出了 SD 卡，可能會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失和SD 卡損壞。點(diǎn)擊關(guān)閉該提示，關(guān)機(jī)后插回 SD 卡。

WARNING:No memory card. You can add it at any time.

Click here to close the window.

儀器未插入 SD 卡，可以在任何時(shí)候插入 SD 卡。點(diǎn)擊關(guān)閉該提示。

PREPARING CARD FOR RECORDING!!!

DO NOT REMOVE!!! PLEASE WAIT. 正在初始化 SD 卡，不要拔出 SD 卡。

ERROR: Invalid memory card. Format or replace it.

Click here to close the window.

SD 卡格式不兼容，先在電腦上格式化成 FAT32 格式再使用。

ERROR!!! STACK OVERFLOWED.

Click here to turn device off.

出現(xiàn)嚴(yán)重故障。需要重置儀器，如果問(wèn)題未解決，必需返回原廠維修。

備注：當(dāng)儀器出現(xiàn)死屏或嚴(yán)重故障時(shí)，用回形針頂一下儀器底部的重置孔，儀器恢復(fù)到出廠狀態(tài)，通常能解決故障。

備注：儀器長(zhǎng)期閑置，電池可能耗盡電量。這時(shí)插上電源適配器，用回形針頂一下儀器底部的重置孔，電池重新被激活，儀器開(kāi)始充電。

7. 儀器校準(zhǔn)

測(cè)試靜電放電電壓，測(cè)試方法是獲取放電信號(hào)的強(qiáng)度然后采用專(zhuān)有算法計(jì)算出放電電壓值。

原廠校準(zhǔn)書(shū)僅顯示儀器能否正確接收到放電信號(hào)，校準(zhǔn)方法是采用脈沖電源輸出 100mV、150mV、1.0V、1.5V 信號(hào)，然后驗(yàn)證儀器接收到的信號(hào)強(qiáng)度（dBμV）是否準(zhǔn)確。

疑問(wèn)一：如何在第三方進(jìn)行校準(zhǔn)？

答：不能在第三方機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn)，因?yàn)樵瓘S對(duì)儀器的天線數(shù)據(jù)（電容、阻抗）等均無(wú)公開(kāi)。第三方無(wú)法對(duì)儀器能否接收正確放電信號(hào)進(jìn)行驗(yàn)證。即使第三方可以驗(yàn)證儀器是否準(zhǔn)確獲取放電信號(hào)，后續(xù)也無(wú)法根據(jù)

信號(hào)強(qiáng)度計(jì)算出放電電壓值，該算法為原廠專(zhuān)有算法，無(wú)公開(kāi)。

所以?xún)x器必需返回原廠進(jìn)行校準(zhǔn)，亞洲用戶(hù)可以返回 DESCO 日本公司進(jìn)行校準(zhǔn)。

疑問(wèn)二：該儀器測(cè)試放電電壓，但為什么沒(méi)有測(cè)試精度參數(shù)？

答：靜電放電電壓和實(shí)際物體的電容有關(guān)，儀器無(wú)法事先知道被測(cè)物體的電容，只能采取一個(gè)經(jīng)驗(yàn)值（根據(jù)實(shí)驗(yàn)取一個(gè)能兼顧大多數(shù)器件的經(jīng)驗(yàn)值）來(lái)計(jì)算放電電壓。所以?xún)x器的讀數(shù)是接近實(shí)際放電電壓值，而

沒(méi)有一個(gè)定量的測(cè)試精度。

疑問(wèn)三：如何直觀地驗(yàn)證儀器的測(cè)試準(zhǔn)確度？

答：下圖顯示了靜電模擬器的放電過(guò)程，儀器實(shí)測(cè)讀數(shù)接近放電電壓。用戶(hù)可以用靜電放電槍做這類(lèi)驗(yàn)證。